Микроскоп Nikon MA200

Применяется для микроструктурных наблюдений в материаловедении, анализа и оценки материалов, таких как металлы, керамика и полимеры.
Уникальный кубический микроскоп обеспечивает решение для мониторинга качества в НИОКР и промышленности, связанной с автомобильными материалами.
Поддержка открытого поля, темного поля, дифференциальной интерференции, флуоресценции, простой поляризации и других методов наблюдения, с компактной структурой, удобной работой, равномерным освещением, четким изображением, энергосбережением и энергосбережением, прочностью и долговечностью и другими характеристиками.

Основные особенности
1, Кубический дизайн, экономия пространства, высокая сейсмичность
Новая конструкция ECLIPSE MA200, которая экономит 33% пространства по сравнению с TME300, повышает работоспособность прибора и уменьшает ущерб, наносимый пользователям длительными наблюдениями.
Неограниченная коррекция оптической системы CFI60
Оптическая система CFI60 производит яркие, четкие, высокоразрешающие и контрастные изображения, которые также уменьшают вспышку до более низкого уровня. Этот дизайн объектива 1× позволяет наблюдать поле обзора диаметром 25 мм, а также позволяет наблюдать образцы, погребенные в смоле во всех направлениях. Светлое и темное зрение, DIC、 Также могут проводиться флуоресцентные и поляризационные наблюдения. Кроме того, специально разработанные колонны пропускания могут выполнять несколько наблюдений пропускания.
3 Удобность эксплуатации
Части, которые часто требуют работы, сосредоточены в непосредственной близости от места наблюдателя, то есть перед микроскопом. Такие, как: диафрагма поля зрения, диафрагма с апертурой, дефлектор отклонения, дефлектор отклонения, вставка контрольной панели и переключение открытого темного поля.
Подключение цифровых изображений
Система мониторинга объектива передает полученную объективом информацию о изображении через блок управления цифровыми камерами DS - L2 и DS - U2. Размер изображения автоматически корректируется на компьютере в зависимости от увеличения микроскопа.
Эта настройка увеличения цифрового изображения выполняется автоматически и минимизирует ошибки.
Независимый контроллер дисплея DS - L2 (данные изображения могут храниться на флешке),
DS-L2
Контроллер подключения к компьютеру DS - U2, который должен использоваться вместе с программным обеспечением NIS Elements.
DS-U2
5.Цифровая съемка изображений (необязательная конфигурация)
Функция сращивания NIS - Elements позволяет соединять и анализировать более крупные изображения. Функция автоматического измерения в программном обеспечении NIS - Elements позволяет проводить анализ частиц металла. Кроме того, программное обеспечение Metalo для измерения частиц и программное обеспечение для чугуна также могут автоматически анализировать размер чугуна и частиц на основе ASTM и JIS.
Возможности программного обеспечения NIS Elements позволяют обеспечить бесшовную компоновку микроизображений;
Используя функции программного обеспечения NIS Elements, можно проводить анализ материалов, такие как анализ зернистости, анализ графитовой глобуляции сферического чугуна.
Инвертированный золотофазный микроскоп Nikon MA200 CFI LU Plan Fluor Epi:
Увеличенное кратное 5X; числовая апертура (NA) 0.15; Рабочее расстояние (W.D.) 23,5 мм
Увеличенное кратное 10X; числовая апертура (NA) 0,30; Рабочее расстояние (W.D.) 17,5 мм
Увеличенное кратное 20X; числовая апертура (NA) 0,45; Рабочее расстояние (W.D.) 4,5 мм
Увеличенное кратное 50X; числовая апертура (NA) 0,80; Рабочее расстояние (W.D.) 1,0mm
Увеличенное кратное 100X; числовая апертура (NA) 0,90; Рабочее расстояние (W.D.) 1,0mm