Испытательная система LIBS с пространственным разрешением микрон - MEEPLIBS
Метод MEEPLIBS позволяет проводить анализ элементов с пространственным разрешением в микрометровом масштабе и в сочетании с традиционными микроскопическими реализациями * со стандартными аналитическими калибрами 15 и 18 микрон (zui micro до 4 микрон), которые могут быть испытаны в атмосфере при комнатной температуре или в определенных условиях.
Элементный анализ в реальном времени, широко используемый в микрометровом пространственном разрешении полупроводниковых материалов и панельных материалов.
Особенности системы:
Источник света: 266 нм ультрафиолетовый лазерный источник
Функция формирования лазерного луча с аттенюатором, программное обеспечение для настройки мощности лазера
Автоматическое управление температурой для системы обнаружения
Настройка камеры в системе, где пользователь может в режиме реального времени наблюдать пробную область
Настройка электрического трехмерного регулятора для калибровки положения фокусировки лазера, повышения точности повторяемости эксперимента, последовательного измерения образцов
Аналитические измерения включают в себя все элементы массы Zui Light
Предварительная обработка образцов не требуется, экспресс - тестирование