УибонHAST Испытательная камера для ускоренного старения высокого давления:Технология Highly Accelerated Stress Test Chamber предназначена для моделирования высокотемпературных, высоковлажных и высоковольтных сред микросхем с ускоренным старением в течение определенного периода времени для проверки надежности и срока службы микросхем в кратчайшие сроки, что повышает качество и надежность продукции.

► Первое в отрасли давление может достигать диапазона испытаний 4KG,

► Конструкция дверей автоматической коробки, открывающаяся и закрывающаяся дверь коробки управления кнопками, с собственной защитой от давления,

► Встроенный алгоритм управления PID для обеспечения точности значений температуры, влажности и давления,

► Испытания на постоянную влажную теплоту (HAST) и варку под высоким давлением (PCT), совместимые с ненасыщенным паром высокого давления,

Соответствие критериям испытанийА.

AEC Q101 (автомобильный чип)

JIS C0096-2

GB / T2423.40-1997 Экологические испытания электротехнической электроники Часть 2: Метод испытаний Cx: постоянная влажная теплота ненасыщенного пара высокого давления

IEC 60068 - 2 - 66 - 1994 Экологические испытания. Часть 2–66: Метод испытания. Испытание Cx: стабильная влажность

JESD22 - A100 Срок службы при температурном и влажном смещении цикла

JESD22 - A101 Стационарная температура, влажность / смещение, испытание на срок службы (продолжительность жизни при температуре и влажном смещении)

JESD22 - A102 Испытание на варку под высоким давлением (ускорение влагонепроницаемости)

JESD22 - A108 Температура, смещение напряжения и срок службы

JESD22 - A110 HAST Испытание на высокоускоренное температурно - влажное напряжение

JESD22 - A118 Эксперимент по температуре и влажности без смещения напряжений с высоким ускорением UHAST (ненасыщенный пар высокого давления без смещения напряжения)

:: Возможность настройки нестандартных моделей с произвольными параметрами